Jste zde

Novinky přesného měření MICRO-EPSILON na AMPER 2014

Antonín Vojáček, 11. Březen 2014 - 20:03

Společnost MICRO-EPSILON představí na veletrhu AMPER 2014 (18.-21.3.) novinky v oblasti přesného optického měření vzdálenosti (rozlišení až 0,03 μm), měření teplot vysokých hodnot (až 1750°C), přesného optického měření a detekce barev nebo průmyslových endoskopů...

Společnost MICRO-EPSILON letos na veletrhu AMPER 2014 na brněnském výstavišti BVV představí následujcí novinky v oblasti přesného průmyslového měření:

Oblast MĚŘENÍ VZDÁLENOSTI:

laserový profilový skener pro kontrolu mezer gapCONTROL,
systém pro měření vzdálenosti na bázi vířivých proudů eddyNCDT 3100,
laserový triangulační snímač řady optoNCDT 2300 s rozlišením od 0,03 μm,
spolehlivé lankové snímače s měřícím rozsahem až do 60 m,
optické mikrometry pro online měření průměrů, polohy hran, mezer a segmentů,
rychlé laserové profilové skenery scanCONTROL s analogovými výstupy,
konfokální optické snímače s nanometrovou přesností, i v miniaturním provedení,
kapacitní snímače pro rychlá měření s vysokým rozlišením.

Oblast měření TEPLOTY:

miniaturní infračervenou kameru TIM 400 s vysokým rozlišením a TIM 200 s integrovaným, vizuálním objektivem, rychlostí snímkování až 128 Hz (pro IR) a možností kalibrace až do 1750°C,
průmyslové bezdotykové teploměry s laserovým zaměřováním pro různé materiály a prostředí,
high-end ruční IR teploměry.