Interferometr IMS5400-DS

Interferometr IMS5400-DS otevírá nové perspektivy v průmyslovém měření vzdáleností. Kontrolér má inteligentní vyhodnocení a umožňuje absolutní měření s přesností v nanometrech s relativně velkou ofsetovou vzdáleností. Ve srovnání s jinými absolutně měřicími optickými systémy nabízí IMS5400-DS bezkonkurenční kombinaci přesnosti, rozsahu měření a ofsetové vzdálenosti.

Robustní snímač a řídicí jednotka v kovovém pouzdru činí systém ideálním pro integraci do výrobních linek. Regulátor může být instalován do rozvaděče na lištu a poskytuje velmi stabilní výsledky měření díky aktivní kompenzaci teploty a pasivnímu chlazení. Kompaktní snímače šetří prostor a mohou být také integrovány do stísněných prostor. Vysoce flexibilní kabely z optických vláken jsou k dispozici v délce až 10 metrů a umožňují fyzickou separaci senzoru od ovladače. Uvedení do provozu a parametrizace se provádí pohodlně přes webové rozhraní a nevyžaduje žádnou instalaci softwaru.

Vlastnosti:

• Nanometrově přesné, absolutní měření vzdálenosti, vhodné pro stupňovité profily
• Vícešpičkové měření vzdálenosti průhledných objektů
• Kompaktní a robustní snímače s velkou ofsetovou vzdáleností
• Rychlost měření až 6 kHz pro vysokorychlostní měření
• Robustní ovladač s pasivním chlazením
• Snadná konfigurace přes webové rozhraní

Měření absolutní vzdálenosti s rozlišením v nanometrech

IMS5400-DS se používá pro vysoce přesné měření vzdálenosti a polohy. Na rozdíl od konvenčních interferometrů umožňuje IMS5400-DS stabilní měření stupňovitých profilů. Díky absolutnímu měření jsou úrovně snímány s vysokou stabilitou a přesností signálu. Při měření na pohybujících se objektech lze spolehlivě zaznamenat výškové rozdíly kroků, schodů a vybrání.

Při mulit peak měření vzdálenosti na průhledných objektech se současně vyhodnocuje až 14 hodnot vzdálenosti. Například lze určit vzdálenost mezi sklem a nosnou deskou. Kromě toho může ovladač vypočítat tloušťku skla na základě hodnot vzdálenosti. 

Malý světelný bod pro měření nejmenších detailů a struktur. Senzory generují malý světelný bod v celém měřicím rozsahu. Průměr světelného bodu je pouze 10 µm a umožňuje sledovat malé detaily, např. struktury na polovodičích a miniaturizovaných elektronických součástkách.

Měření široké škály povrchů. Interferometrická metoda měření dovoluje měřit s vysokou přesností na četných površích, jako jsou reflexní kovy, plasty či sklo.

Výkonné 2D/3D laserové scenery

Laserové skenery scanCONTROL 30x2 jsou výkonné a kompaktní profilové snímače jak z hlediska velikosti měřících rozsahů, tak i přesnosti a rychlosti měření. Tyto laserové skenery poskytují kalibrovaná 2D profilová data o kvantitě až 5,12 miliony bodů za sekundu. S maximální profilovou frekvencí 5 kHz jsou skenery určeny pro přesné měření profilu v dynamických procesech. Samotný profil nabízí rozlišení 1 024 bodů se vzdáleností mezi jednotlivými body již od 24 µm. To znamená, že lze spolehlivě detekovat i malé detaily. Laserové skenery scanCONTROL 30x2 jsou nyní k dispozici také s velkým měřicím polem 200 x 300 mm. To umožňuje detekovat a měřit ještě větší objekty s vysokou přesností.

Vlastnosti:

• Měřící rozsah osy Z do 300 mm
• Měřící rozsah osy X do 290 mm
• Frekvence měření profilu až 5 kHz
• Při maximální frekvenci tvoří 2D data rychlostí 5,120,000 bodů za sekundu
• Linearita osy Z od 2 μm
• Rozlišení osy X až 1 024 bodů
• Dostupný i s patentovanou technologií modrého laseru

Více informací naleznete na

• https://www.micro-epsilon.cz/2D_3D/laser-scanner/scanCONTROL-3002/
• https://www.micro-epsilon.cz/displacement-position-sensors/interferometer/IMS5400-DS/

Micro Epsilon představí svá řešení také na veletrhu Amper 2023.
29. mezinárodní veletrh elektrotechniky, energetiky, automatizace, komunikace, osvětlení a zabezpečení se koná v Brně 21.-23.3.2023. 
www.amper.cz